Νανοισορροπιστής
ΝανοισορροπιστήςΝανοισορροπιστήςΝανοισορροπιστήςΝανοισορροπιστήςΝανοισορροπιστής

Νανοισορροπιστής

Το λεπτό σύστημα ισορροπίας NanoBalancer διορθώνει τις μικρότερες ανισορροπίες περιστρεφόμενων εργαλείων με αφαίρεση υλικού μέσω λέιζερ. Η αφαίρεση του υλικού πραγματοποιείται είτε στατικά μετά τη μέτρηση είτε δυναμικά κατά τη διάρκεια της περιστροφής του εργαλείου. Τυπικά παραδείγματα είναι οι τροχοί για τεχνικές ή ιατρικές εφαρμογές, οι τουρμπίνες που λειτουργούν με αέρα ή οι μικροί ρότορες μινιατούρων κινητήρων.
Παρόμοια προϊόντα
1/15
Μέτρηση Γρανάζιων
Μέτρηση Γρανάζιων
Μέσω ειδικών μετρητικών μηχανών μπορούμε να σας μετρήσουμε τα γρανάζια (εξωτερικά και εσωτερικά) σε κάθε παραλλαγή, από 10 έως 420mm σε εξωτερική διάμ...
CH-3360 Herzogenbuchsee
Ημι-Αυτόματη Φόρτωση
Ημι-Αυτόματη Φόρτωση
Η 100% ασφάλεια πλήρωσης εξασφαλίζεται μέσω ενός καλά σχεδιασμένου λογισμικού. Ο ημι-αυτόματος SM902 προσφέρει 100% ασφάλεια πλήρωσης μέσω ενσωματωμέ...
DE-92280 Kastl
ES WELD Λέιζερ Συναρμολόγησης
ES WELD Λέιζερ Συναρμολόγησης
Λέιζερ-Μικροκολλητική εγκατάσταση για διάφορα υλικά και κομμάτια εργασίας Εγκατάσταση συγκόλλησης κατηγορίας λέιζερ 1 με παλμικό ίνα λέιζερ για κομμά...
DE-70565 Stuttgart
Συστήματα Παρεμβολής TOPOS
Συστήματα Παρεμβολής TOPOS
TOPOS Διαθλαστικά Μετρητικά Συστήματα για την επαφή χωρίς επαφή της επίπεδης επιφάνειας λεπτομερών επεξεργασμένων ακριβείας Τα διαθλαστικά TOPOS λειτ...
DE-70619 Stuttgart
Συσκευή Μέτρησης Καλωδίων VCPLab - Σύστημα Βασισμένο σε Κάμερα για Μέτρηση Γεωμετριών Καλωδίων σε Μονωτικά Περιβλήματα και Μανίκια
Συσκευή Μέτρησης Καλωδίων VCPLab - Σύστημα Βασισμένο σε Κάμερα για Μέτρηση Γεωμετριών Καλωδίων σε Μονωτικά Περιβλήματα και Μανίκια
Λεπτομέρειες συσκευής: ■ Θήκη ως απομόνωση από ξένο φως ■ Κεντρική μονάδα ελέγχου ■ Ημι-αυτόματη εστίαση και έκθεση ■ Αντοχή σε κραδασμούς ■ Σχεδόν χω...
DE-98527 Suhl
Ψηφιακός Προβολέας Μέτρησης
Ψηφιακός Προβολέας Μέτρησης
Σημαντικό για να επιτευχθεί μια καλή μέτρηση, το έργο θα πρέπει να είναι όσο το δυνατόν πιο καθαρό και να μην έχει σχηματισμό χονδροειδών ακμών. Τεχν...
CH-5630 Muri
Σταθμός Δοκιμών Μαγνητικού Πεδίου
Σταθμός Δοκιμών Μαγνητικού Πεδίου
Συνεργασία ανάπτυξης με τα συστήματα δοκιμών Koob Μέτρηση μαγνητικού πεδίου σε ρότορες (μόνιμοι ή εξωτερικά διεγερμένοι) Αυτή η αυτόματη δοκιμή χρησι...
DE-98617 Untermaßfeld
Μηχανή συγκόλλησης πλέγματος ML 1250 BB
Μηχανή συγκόλλησης πλέγματος ML 1250 BB
Μηχανή συγκόλλησης πλέγματος για την παραγωγή ηλεκτροσυγκολλημένου πλέγματος τροφοδοτούμενου από σύρματα. Η αυτόματη μηχανή συγκόλλησης πλέγματος μπορ...
IT-61036 Colli Al Metauro
Offline μετρητής φύλλου VDM - Σταθμός μέτρησης για τη μέτρηση του πάχους δειγμάτων πλαστικής μεμβράνης
Offline μετρητής φύλλου VDM - Σταθμός μέτρησης για τη μέτρηση του πάχους δειγμάτων πλαστικής μεμβράνης
Η μέτρηση πάχους σε δείγματα πλαστικής μεμβράνης απαιτεί αυτόματη μεταφορά των ταινιών μέσω της συσκευής μέτρησης, επιτρέποντας την ευελιξία του υλικο...
DE-58093 Hagen
iXRAY - Σύστημα Μέτρησης με Ακτίνες Χ - Το iXRAY επιλύει όλες τις μετρητικές εργασίες για σωλήνες και σωλήνες πολλαπλών στρώσεων
iXRAY - Σύστημα Μέτρησης με Ακτίνες Χ - Το iXRAY επιλύει όλες τις μετρητικές εργασίες για σωλήνες και σωλήνες πολλαπλών στρώσεων
Το iXRAY επιλύει σχεδόν όλες τις εργασίες μέτρησης, αυτοματοποίησης και τεκμηρίωσης για σωλήνες και σωληνώσεις μονής και πολλαπλής στρώσης. Χάρη σε μι...
DE-49324 Melle
CryoSAS - Κρυογενές Σύστημα Ανάλυσης Σιλικόνης
CryoSAS - Κρυογενές Σύστημα Ανάλυσης Σιλικόνης
Το Σύστημα Ανάλυσης Κρυογονικού Πυριτίου (CryoSAS) της Bruker Optics είναι ένα ειδικά σχεδιασμένο ολοκληρωμένο σύστημα για την ανάλυση ακαθαρσιών πυρι...
DE-76275 Ettlingen
Solver Nano - Εξειδικευμένο AFM
Solver Nano - Εξειδικευμένο AFM
Η AFM κατέχει ισχυρές θέσεις στην επιστημονική έρευνα καθώς χρησιμοποιείται ως ρουτίνα αναλυτικό εργαλείο για την χαρακτηριστική φυσικών ιδιοτήτων με ...
RU-124460 Moscow
ΣΤΑΘΜΟΣ ΕΡΓΑΣΙΑΣ
ΣΤΑΘΜΟΣ ΕΡΓΑΣΙΑΣ
Η WORKSTATION είναι μια καθολική καμπίνα επεξεργασίας λέιζερ για διάφορες εφαρμογές σήμανσης και δομής λέιζερ. Εξοπλισμένη με λέιζερ νανοδευτερολέπτων...
DE-91242 Ottensoos
Phenom ParticleX TC Desktop REM
Phenom ParticleX TC Desktop REM
Ανάλυση καθαρότητας εξαρτημάτων με ένα πολύπλευρο desktop SEM, 200.000x μεγέθυνση, <10nm ανάλυση, EDX στοιχειακή ανάλυση και SED ως επιλογές.
DE-63225 Langen
3D AOI Επιθεώρηση Ηλεκτρονικών Συναρμολογήσεων
3D AOI Επιθεώρηση Ηλεκτρονικών Συναρμολογήσεων
Έλεγχος των συναρμογών με τη χρήση της πιο σύγχρονης τεχνολογίας 3D AOI Πλήρης έλεγχος των συναρμογών με την τελευταία τεχνολογία 3D AOI.
CH-8863 Buttikon