Solver Nano - Εξειδικευμένο AFM

Η AFM κατέχει ισχυρές θέσεις στην επιστημονική έρευνα καθώς χρησιμοποιείται ως ρουτίνα αναλυτικό εργαλείο για την χαρακτηριστική φυσικών ιδιοτήτων με υψηλή χωρική ανάλυση έως το ατομικό επίπεδο. Ο Solver Nano είναι η καλύτερη επιλογή για τους επιστήμονες που χρειάζονται ένα μόνο όργανο που είναι προσιτό, ανθεκτικό, φιλικό προς τον χρήστη και επαγγελματικό εργαλείο. Ο Solver Nano έχει σχεδιαστεί από την ομάδα NTMDT SI που δημιούργησε επίσης Συστήματα Υψηλής Απόδοσης όπως τα NTEGRA, NEXT II και NTEGRA Spectra II, τα οποία έχουν αποδειχθεί στην επιστημονική κοινότητα μέσω πολλών σημαντικών δημοσιεύσεων. Ο Solver Nano είναι εξοπλισμένος με έναν επαγγελματικό σκανάρισμα CL (κλειστού βρόχου XYZ) με piezotube 100 μικρών με χαμηλούς θορύβους. Οι αισθητήρες χωρητικότητας σε σύγκριση με τους αισθητήρες παραμόρφωσης και τους οπτικούς αισθητήρες έχουν χαμηλότερο θόρυβο και υψηλότερη ταχύτητα στο σήμα ανατροφοδότησης. Ο σκανάρης CL ελέγχεται από έναν επαγγελματικό σταθμό εργασίας και λογισμικό. Αυτές οι δυνατότητες επιτρέπουν όλες τις βασικές τεχνικές AFM σε συμπαγή σχεδίαση SPM. Σκανάρισμα: 100 x 100 x 12 μm κλειστού βρόχου, 3x3x3 μm ανοιχτού βρόχου Ανάλυση AFM: 0.01 nm Περιβάλλοντα: Μετρήσεις σε αέρα και υγρό. Συνδυασμένα οπτικά μικροσκόπια βίντεο: Ενσωματωμένο οπτικό μικροσκόπιο USB 100x Σχεδίαση: Επιτραπέζιο, προσιτό, ανθεκτικό και φιλικό προς τον χρήστη Καθεστώς υψηλής τάσης: 100x100x12 μm Καθεστώς χαμηλής τάσης: 3x3x3 μm Τύπος σκανάρη: Μετρολογικός piezotube XYZ σκανάρης με αισθητήρες Τύπος αισθητήρων: XYZ – υπερταχείς αισθητήρες χωρητικότητας Χαμηλός θόρυβος XY αισθητήρας: <0.3 nm Μετρολογικός Z αισθητήρας: <0.03 nm Μετρολογικός XY αισθητήρας: <0.1% Γραμμικότητα αισθητήρων Μετρολογικός Z αισθητήρας: <0.1% Ανάλυση: XY - 0.3 nm, Z - 0.03 nm Γραμμικότητα: XY - <0.1%, Z - <0.1% Εύρος τοποθέτησης δείγματος: 12 mm Ανάλυση τοποθέτησης δείγματος: 1.5 μm Διαστάσεις δείγματος: έως 1,5” X 1,5” X 1/2”, 35x35x12 mm Βάρος δείγματος: Z – Βηματικός κινητήρας Μέγεθος βήματος συστήματος προσέγγισης: 230 nm Ταχύτητα προσέγγισης: 10 mm ανά λεπτό Αλγόριθμος ήπιας προσέγγισης: Διαθέσιμος (η πρόβλεψη εγγυάται ότι θα σταματήσει πριν αγγίξει το δείγμα) AFM κεφαλή για Si cantilever: Διαθέσιμη. Όλοι οι εμπορικοί cantilevers μπορούν να χρησιμοποιηθούν Τύπος ανίχνευσης cantilever: Ευθυγράμμιση λέιζερ/ανιχνευτής Κρατητήρες προβάτων: Κρατητήρας προβάτων για μετρήσεις σε αέρα. Κρατητήρας προβάτων για μετρήσεις σε υγρό. Τύπος τοποθέτησης κεφαλής AFM: Κινηματικά τοποθετημένη. Ακρίβεια τοποθέτησης 150 nm (Ακρίβεια αφαίρεσης/τοποθέτησης) STM AFM κεφαλή για καλώδια: Διαθέσιμη. Τούγκεστεν καλώδιο για μετρήσεις AFM. (χαμηλού κόστους πειράματα) Αριθμός εικόνων που μπορούν να αποκτηθούν κατά τη διάρκεια ενός κύκλου σάρωσης: Έως 16 Μέγεθος εικόνας: Έως 8Kx8K μέγεθος σάρωσης DSP: Floating point 320 MHz DSP Ψηφιακό FB: Ναι 6 κανάλια DACs: 4 σύνθετοι DACs (3x16bit) για X,Y,Z, Bias Voltage 2 16-bit DAC για έξοδο χρήστη Υψηλής τάσης εξόδους: X, -X, Y, -Y, Z, -Z από -150 V έως +150 V XY RMS θόρυβος σε εύρος ζώνης 1000 Hz: 0.3 ppm RMS Z RMS θόρυβος σε εύρος ζώνης 1000 Hz: 0.3 ppm RMS XY εύρος ζώνης: 4 kHz (LV καθεστώς – 10 kHz) Z εύρος ζώνης: 9 kHz Μέγιστο ρεύμα ενισχυτών XY: 1.5 mA Μέγιστο ρεύμα ενισχυτών Z: 8 mA Ενσωματωμένος αποδιαμορφωτής για αισθητήρες χωρητικότητας X,Y,Z: Ναι Ανοιχτό/Κλειστό βρόχο για έλεγχο X,Y: Ναι Εύρος ρύθμισης συχνότητας γεννήτριας: DC – 5 MHz Εύρος ζώνης καναλιού καταγραφής εκτροπής: 170 Hz - 5 MHz Εύρος ζώνης καναλιού καταγραφής πλευρικής δύναμης: 170 Hz - 5 MHz 2 επιπλέον εύρη ζώνης καταγραφής: 170 Hz - 5 MHz Bias Voltage: ± 10 V εύρος ζώνης 0 – 5 MHz Αριθμός γεννητριών για διαμόρφωση, προσβάσιμες από τον χρήστη: 2, 0-5 MHz, 0.1 Hz ανάλυση Έξοδοι ελέγχου βηματικού κινητήρα: Δύο 16-bit DACs, 20 V κορυφή-σε-κορυφή, μέγιστο ρεύμα 130 mA Επιπλέον ψηφιακές είσοδοι/έξοδοι: 6 Επιπλέον ψηφιακές έξοδοι: 1 I2C bus: Ναι Μέγιστο μήκος καλωδίου μεταξύ του ελεγκτή και της βάσης SPM ή των μετρητικών κεφαλών: 2 m Διασύνδεση υπολογιστή: USB 2.0 Τροφοδοσία τάσης: 110/220 V Κατανάλωση ενέργειας: ≤ 110 W