... ενσωμάτωση του AFM με τη συνεστιακή μικροσκοπία Raman/φθορισμού παρέχει την πιο ευρεία γκάμα πρόσθετων πληροφοριών σχετικά με το δείγμα.
Ταυτόχρονα μετρημένοι χάρτες AFM και Raman της ακριβώς ίδιας περιοχής δείγματος παρέχουν συμπληρωματικές πληροφορίες σχετικά με τις φυσικές ιδιότητες του δείγματος (AFM) και τη χημική του σύνθεση (Raman).
Περιορισμένη χωρική ανάλυση διάθλασης: <200 nm σε XY, <500...