Ntegra Spectra II - AFM-Raman-Nano-IR Συστήματα

Υψηλής απόδοσης ευέλικτο AFM Οπτική πρόσβαση από πάνω, πλάγια και κάτω, βελτιστοποιημένη για Raman, TERS και SNOM Ευέλικτος οπτικός σχεδιασμός που παρέχει οποιονδήποτε συνδυασμό διαμορφώσεων διέγερσης/συλλογής Αυτοματοποιημένη ευθυγράμμιση λέιζερ AFM, αισθητήρα και φωτοδιόδου Φιλική προς τον χρήστη αλλαγή μήκους κύματος του λέιζερ και της φωτοδίδου του συστήματος καταγραφής AFM Εύκολη και φιλική προς τον χρήστη αλλαγή φακών Ενσωμάτωση με IR sSNOM (προαιρετικά) Από το 1998, η NTMDT έχει ενσωματώσει με επιτυχία το AFM με τεχνικές οπτικής μικροσκοπίας και φασματοσκοπίας. Υποστηρίζονται περισσότερες από 30 βασικές και προηγμένες λειτουργίες AFM, συμπεριλαμβανομένης της λειτουργίας HybriD ModeTM, παρέχοντας εκτενή πληροφορίες σχετικά με τις φυσικές ιδιότητες της επιφάνειας του δείγματος. Η ενσωμάτωση του AFM με τη συνεστιακή μικροσκοπία Raman/φθορισμού παρέχει την πιο ευρεία γκάμα πρόσθετων πληροφοριών σχετικά με το δείγμα. Ταυτόχρονα μετρημένοι χάρτες AFM και Raman της ακριβώς ίδιας περιοχής δείγματος παρέχουν συμπληρωματικές πληροφορίες σχετικά με τις φυσικές ιδιότητες του δείγματος (AFM) και τη χημική του σύνθεση (Raman). Περιορισμένη χωρική ανάλυση διάθλασης: <200 nm σε XY, <500 nm σε Z (με φακό εμβάπτισης) Υψηλής απόδοσης AFM με χαμηλό θόρυβο: Z θόρυβος <0.1 nm (RMS σε εύρος 10‑1000 Hz) Εchelle grating με υπερυψηλή διάσπαση; φασματική ανάλυση: 0.007nm (< 0.1 cm‑1) Χαμηλή συχνότητα/THz Raman φασματοσκοπία: <10 cm-1 με φίλτρα όγκου Bragg Ανταλλάξιμοι φακοί με κινηματικές βάσεις: ακρίβεια <2 µm Διπλή σάρωση: σάρωση από το δείγμα ΚΑΙ σάρωση από την δέσμη λέιζερ (για χαρτογράφηση Hot Spot σε TERS) Όλες οι υπάρχουσες γεωμετρίες TERS είναι διαθέσιμες: φωτισμός/συλλογή από κάτω, από πάνω ή από πλάγια