Προϊόντα για microcontroller (6)

Πάνω από 30 χρόνια εμπειρίας στη διαχείριση μηχανών και εγκαταστάσεων μας καθιστούν τον αξιόπιστο συνεργάτη σας. Ως ένας σημαντικός πάροχος βιομηχανικών υπηρεσιών στη Βόρεια Ρηνανία-Βεστφαλία, η Wendling Elektronik προσφέρει εξατομικευμένες λύσεις για σύνθετα προβλήματα και εξειδικευμένα σενάρια εφαρμογών.

Συστήματα Μικροελεγκτών PIC, dsPIC, Atmel ATMEGA, ATTINY, οικογένεια R5F της Renesas, NXP S12, Cortex ARM 0, ARM 4, ARM 7

Οι σωστοί παράμετροι τροφοδοσίας και οι αντίστοιχες κλιματικές συνθήκες είναι οι πιο σημαντικοί παράγοντες που διασφαλίζουν τη σωστή λειτουργία της τρέχουσας αυτοματοποίησης, ηλεκτρονικών και βιομηχανικών υπολογιστών.

Βοηθητική αντλία δοσομέτρησης ηλεκτρονικού εμβόλου FEDOS DX Η FEDOS DX, ελεγχόμενη από μικροεπεξεργαστή, συνδυάζει τα αποδεδειγμένα χαρακτηριστικά της σειράς FEDOS με τις τελευταίες απαιτήσεις στην τεχνολογία δοσομέτρησης. Ιδανική για εφαρμογές που απαιτούν την ενσωμάτωση της αντλίας σε συστήματα ελέγχου ή βρόχους ελέγχου, η FEDOS DX προσφέρει ευέλικτη προσαρμογή σε διάφορα σήματα ελέγχου και παρακολούθησης του συστήματος. Κύρια χαρακτηριστικά: • Εύρος απόδοσης: από 0,17 έως 31,5 l/h, έως 100 bar • Ευελιξία: Ρύθμιση της συχνότητας διαδρομής με διαίρεση ή πολλαπλασιασμό • Κατάλληλη για ακριβείς εργασίες ανάμειξης • Χαμηλή εξάρτηση από την αντίσταση • Γραμμική μεταβολή της ποσότητας δοσομέτρησης με το μήκος της διαδρομής • Κίνηση εμβόλου με εύκολη ρύθμιση ισχύος • Προαιρετικά: Φακός πλύσης Η FEDOS DX είναι η ιδανική επιλογή για εφαρμογές δοσομέτρησης που απαιτούν μεγάλη ακρίβεια και προσαρμοστικότητα.

HAL στρώματα αφαιρετικής υλικού για μικροελεγκτές PIC, dsPIC, Atmel ATMEGA, ATTINY, οικογένεια R5F της Renesas, NXP S12, Cortex ARM 0, ARM 4, ARM 7

Μικροκάμψεις, Μικροπολύσεις, 2D-Ηλεκτροπολύσεις, Νανοεπικαλύψεις, Υπηρεσίες μέτρησης μικρών εξαρτημάτων, Αφαίρεση γωνιών Για τις κοπές μας με λέιζερ προσφέρουμε διάφορες επιλογές μεταποίησης: επεξεργασία επιφάνειας, αφαίρεση γωνιών κοπής, θρυμματισμός με γυάλινες σφαίρες, κάμψεις, υπηρεσίες μέτρησης, δημιουργία πρωτοκόλλων ελέγχου και εκθέσεων ελέγχου πρώτου δείγματος.