Μικροσκόπιο Παρέμβασης IMOS-νανοπροφιλόμετρο - Νανοπροφιλόμετρα

Ο μικροσκόπιος παρεμβολών IMOS-nanoprofilometer επιτρέπει ακριβείς, ποσοτικές, συμμορφούμενες με το ISO, μη επαφές μετρήσεις επιφάνειας και χαρακτηρισμό μικρο- και νανοκλίμακας χαρακτηριστικών επιφάνειας, καταγράφοντας έως και δύο εκατομμύρια σημεία δεδομένων σε δευτερόλεπτα. Η επιλογή του κατάλληλου οπτικού προφιλόμετρου εξαρτάται από τις απαιτήσεις της εφαρμογής σας, συμπεριλαμβανομένων της ταχύτητας, της ακρίβειας, της κατακόρυφης κλίμακας, της αυτοματοποίησης και της ευελιξίας. Το οπτικό προφιλόμετρο IMOS παρέχει ισχυρή ευελιξία σε μη επαφές οπτικές μετρήσεις επιφάνειας. Το σύστημα διευκολύνει και επιταχύνει την έρευνα μιας ευρείας γκάμας τύπων επιφάνειας, συμπεριλαμβανομένων των λείων, τραχιών, επίπεδων, κεκλιμένων και σκαλοπατιών επιφανειών. Όλες οι μετρήσεις είναι μη καταστροφικές, γρήγορες και δεν απαιτούν ειδική προετοιμασία δείγματος. Ανάλυση XY: 1 µm Περιοχή μέτρησης: 0.4 x 0.3 mm * Μέγεθος pixel στην περιοχή μέτρησης: 0.3 µm * Φωτοανιχνευτής**: CCD-matrix 1392х1040 Πηγή φωτός**: LED (λeff = 630 nm) Μικροαντικείμενα**: 20x (ή 10x, 5x), 2 τεμάχια χωρίς αλλαγή μεγέθυνσης Σαρωτής: Πιεζοηλεκτρικό κεραμικό στοιχείο Στάδια δείγματος: 1D (Z) εύρος 50 mm, 2D (XY) εύρος 75x50 mm Ελεγκτές: CCD-camera frame grabber, ελεγκτής σταδίων, μονάδα ελέγχου συσκευής PC & Λογισμικό ελέγχου: Συμπεριλαμβάνεται