Ntegra Marlin - Χαρακτηριστικά

AFMSICMRaman τριπλή συνέργεια ισχυρών νανοχαρακτηριστικών τεχνικών Λειτουργία ιονικής αγωγιμότητας με μικροσκοπία μη επαφή εικόνας ζωντανών κυττάρων και επιφανειών ζελέ Δύναμη QNM του AFM και SICM ποσοτικές νανομηχανικές μελέτες Έξυπνος Patch Clamp αυτόματη στόχευση νανοπιπετών για μελέτες καναλιών ιόντων Υψηλή ταχύτητα μεγάλης εμβέλειας υψηλής ανάλυσης χαρτογράφησης σε νανοκλίμακα Νανοέγχυση νανοπιπετών με έλεγχο ανατροφοδότησης SICM μπορεί να χρησιμοποιηθεί για τοπικές υποπιπολίτρες ενέσεις σε μεμονωμένα κύτταρα Η SICM (Scanning Ion Conductance Microscopy) είναι μια τεχνική SPM που χρησιμοποιεί νανοπίπετα (κοφτερός γυάλινος ηλεκτρόδιος) για μη επαφή 3D χαρτογράφηση επιφάνειας σε υψηλή ανάλυση. Στη SICM, η απόσταση του αισθητήρα από το δείγμα ελέγχεται μέσω της μείωσης του ιοντικού ρεύματος που ρέει μέσω της άκρης, καθώς πλησιάζει την επιφάνεια του δείγματος. Biophys.Journ. 73, 653658 Έλεγχος θέσης: χωρητικοί αισθητήρες κλειστού βρόχου στους άξονες X,Y,Z Εύρος κίνησης XY: 30×30 μm (προαιρετικά έως 100×100 μm) Εύρος κίνησης Z: 25 μm Ακρίβεια θέσης Z: 0.1 nm Εφαρμογές: SICM (Λειτουργία hopping), SECM, Έξυπνος Patch-Clamp, Μικροέγχυση, QNM, χαρτογράφηση pH Τυπικός χρόνος απόκτησης εικόνας: λιγότερο από 5 λεπτά (εξαρτάται από τον αριθμό σημείων και την τραχύτητα του δείγματος) Υψηλής απόδοσης AFM χαμηλού θορύβου: Θόρυβος Z <0.1 nm (RMS σε εύρος 10-1000 Hz) Εφαρμογές AFM: όλες οι τυπικές λειτουργίες εικόνας AFM (40+), φασματοσκοπία δύναμης-απόστασης Διαθλαστική περιορισμένη χωρική ανάλυση: <200 nm σε XY, <500 nm σε Z (με αντικείμενο εμβάπτισης) Πλέγμα Echelle με υπερυψηλή διάσπαση; φασματική ανάλυση: 0.007 nm (<0.1 cm-1) Η υψηλότερη δυνατή ανάλυση οπτικών χρησιμοποιείται ταυτόχρονα με AFM/SICM: έως 1.45 NA Διπλή σάρωση: σάρωση από το δείγμα ΚΑΙ σάρωση από την δέσμη λέιζερ (για χαρτογράφηση Hot Spot σε TERS)