Next Ii - Αυτοματοποιημένο AFM

Ηγετικό επίπεδο αυτοματοποίησης στη βιομηχανία Εξαιρετικός θόρυβος και θερμικές μετατοπίσεις Γρήγορος σαρωτής με XYZ χαμηλού θορύβου κλειστού βρόχου Καθημερινή ατομική ανάλυση 60+ τρόποι SPM στην βασική διαμόρφωση Συνεχής ζουμ από χιλιοστόμετρο σε νανομέτρο Ενσωματωμένο με τη νέα τεχνική Ατομικής Δύναμης Μικροσκοπίας HybriD Mode™ Ο Ατομικός Δύναμης Μικροσκόπιο NEXT παρέχει κινητοποιημένη τοποθέτηση δείγματος και ενσωματωμένη τοποθέτηση οπτικού μικροσκοπίου υψηλής ανάλυσης, κινητοποιημένο συνεχές ζουμ και εστίαση του οπτικού μικροσκοπίου. Αλλά η αυτοματοποίηση AFM είναι περισσότερη από απλή κινητοποίηση. Ισχυροί αλγόριθμοι λογισμικού Nova PX γεφυρώνουν το χάσμα μεταξύ οπτικής και AFM παρέχοντας συνεχές ζουμ από τεράστια πανοραμική οπτική θέα μέχρι ατομική ανάλυση. Δεδομένου ότι όλοι οι κινητήρες βημάτων είναι συνδεδεμένοι μεταξύ τους με την οπτική εικόνα, το NEXT παρέχει αυτόματη εστίαση, γρήγορη ευθυγράμμιση κεκλιμένου με ένα κλικ, πανοραμική οπτική θέα και πολλαπλή σάρωση σε περιοχή 5×5 mm. Αναγνώριση κεκλιμένου και αυτόματη ευθυγράμμιση λέιζερ τόσο σε υγρό όσο και σε αέρα Αυτόματη εστίαση Κεφαλές μέτρησης: AFM και STM (σταθερές, αυτόματα εναλλάξιμες); υγρό AFM και κεφαλή νανοσκληρόμετρου Διαθέσιμοι τρόποι SPM: AFM, STM, νανοσκληρόμετρο σε περιβάλλον αέρα, AFM σε υγρό περιβάλλον Σύστημα καταγραφής εκτροπής κεκλιμένου: αυτοματοποιημένη ευθυγράμμιση Μέγεθος: έως 20 mm σε διάμετρο, έως 10 mm σε ύψος Βάρος δείγματος: έως 40 g Έλεγχος θερμοκρασίας: από RT έως 150 °C Τύπος σάρωσης: κατά δείγμα Περιοχή σάρωσης: 100x100x10 μm (με αισθητήρες ανατροφοδότησης) 3x3x2 μm σε λειτουργία υψηλής ανάλυσης Μη γραμμικότητα, XY: 0.1 % (με αισθητήρες ανατροφοδότησης) Θόρυβος XY: λιγότερο από 0.3 nm (με αισθητήρες ανατροφοδότησης) Μέθοδος: αυτοματοποιημένη, παρακολουθούμενη μέσω βίντεο Εύρος, XY: 5x5 mm Ελάχιστο βήμα: 0.3 μm Ανάλυση: 2 μm Εστίαση: κινητοποιημένη Ζουμ: συνεχές Διαστάσεις: 470x210x260 mm Βάρος: 25 kg