Leica EM TIC 3X

Το τριπλό σύστημα ιοντικής διάβρωσης Leica EM TIC 3X επιτρέπει τη δημιουργία τομών και επίπεδων επιφανειών για τη σάρωση ηλεκτρονικής μικροσκοπίας (Scanning Electron Microscopy - SEM), μικροδομική ανάλυση (EDS, WDS, Auger, EBSD) και μελέτες AFM. Με το Leica EM TIC 3X παράγετε σε κανονική θερμοκρασία ή σε κατεψυγμένα δείγματα από σχεδόν κάθε υλικό υψηλής ποιότητας επιφάνειες, έτσι ώστε οι εσωτερικές δομές να διατηρούνται όσο το δυνατόν περισσότερο στην αρχική τους κατάσταση.