Φασματοσκόπιο EA 1000 VX / AIII - Η σειρά φασματοσκοπίων EA1000 έχει σχεδιαστεί για να παρακολουθεί...

Η χρήση τεχνικών XRF επιτρέπει μια μη καταστροφική ανάλυση σχεδόν όλων των τύπων δειγμάτων με σχεδόν καθόλου προετοιμασία. Αυτή η βασική διάταξη φασματομέτρου σας επιτρέπει να αναλύετε: - στερεά (όπως κράματα μετάλλων, ορυκτά, κοσμήματα, ηλεκτρονικά μέρη [PCB],…) - σκόνες (ορυκτά, κεραμικά, χρώμα, έδαφος,… ) σε αντίστοιχο κάτοχο - υγρά (λάδια, διαλύματα, χρώμα, …) σε αντίστοιχο κάτοχο σε σχέση με τις τελευταίες κατευθυντήριες γραμμές για περιορισμένα υλικά (όπως RoHS, WEEE, κ.λπ.) αλλά και με πιο γενικό τρόπο για να εκτιμήσετε τη σύνθεση σε εύρος στοιχείων από Al (13) έως U (92). Μια κάμερα CCD χρησιμοποιείται για να τοποθετήσει το δείγμα έτσι ώστε να μετρηθεί μόνο η περιοχή ενδιαφέροντος – με τη χρήση κατάλληλων κολλιμέτρων μπορεί να επιτευχθεί ελάχιστο μέγεθος σημείου 1mm. Για να ενισχυθεί η ταχύτητα μέτρησης και η αναλυτική απόδοση (ενεργειακή ανάλυση), το EA1000VX είναι εξοπλισμένο με έναν υπερσύγχρονο ανιχνευτή SDD 50mm2 (δεν απαιτείται πλέον υγρό άζωτο). Αυτή η υλικοτεχνική υποδομή σας επιτρέπει να αναλύετε το πάχος της μεμβράνης.